具有精确测量,高分辨率,用户友好型的特点。
赋予纳米技术产业创新力量。
从网络研讨会、教程、参考资料以及专家那里学习AFM技术。
满足您AFM需求的广泛而必要的工具。
Bringing Global SPM Experts Together to ShareCutting-edge AFM Research
为全球研究和工程领域实现纳米级创新。
纳米创新与宏观投资潜力的交汇点。
Park NX-Hybrid WLI是首个内置WLI轮廓测量的AFM,适用于半导体及相关制造的质量保证、半导体前端和后端的过程控制、先进封装和研发计量。它适用于需要在大面积上进行高吞吐量测量的用户,可以缩放到纳米级区域,具有亚纳米分辨率和超高精度。
将白光干涉测量引入AFM技术 用于半导体计量