高分解能電気研究用に開発
Park Heterodyne KPFM
システム互換性
- • Park FXシリーズに搭載
•
Park NXシリーズの有償ハードウェアアップグレードで利用可能
* Park NX20 LiteおよびNX7を除く
ヘテロダイン効果
どのように作用するのか？
ケルビンプローブ力顕微鏡（KPFM）は、表面電位と仕事関数の定量的測定に広く使用されているAFM技術です。Park Heterodyne KPFMは、この確立された手法を、より高いQファクターを提供し、接触電位差（CPD）測定時のトポグラフィークロストークを大幅に低減する第二高調波信号検出という新しいアプローチで進化させました。2次元材料、半導体、ナノ構造表面などのアプリケーションに最適化されたPark Heterodyne KPFMは、ナノスケールの電気特性評価において優れた明瞭性と精度を実現します。
洗練された感度
Park Heterodyne KPFMは、AFMのカンチレバー先端の特定の目標座標から最も近い部分に向けられた正確な信号によって正確なデータを提供することで、従来のKPFM法と比較して優れた分解能と感度を提供します。一方、*AM-KPFMでは、カンチレバーの先端、先端側面、広範囲など複数の部分から信号を検出するため、信号の平均化が生じます。
*AM-KPFM（Amplitude-Modulation KPFM：振幅変調KPFM）
高分解能電気研究における卓越した性能
研究結果によると、Park Heterodyne KPFM法は、従来のAM-KPFMと比較して、定量的で信頼性の高い結果を大幅に提供します。浮遊電界の影響を受けやすいAM-KPFMとは異なり、Park Heterodyne KPFMはこれらの影響を最小限に抑え、AM-KPFMが約60%の精度を示すのに対し、理想値との一致率は最大99%に達します。これにより、Park Heterodyne KPFMは、特に高度な電気的研究において、精密な表面電位マッピングを行うための強力な選択肢となります。
*ここで紹介する性能率は、Amelie Axt, Ilka M. Hermes, Victor W. Bergmann, Niklas Tausendpfund, and Stefan A. L. Weberによる出版物「Know your full potential」に概説されている方法に従って実施された性能テストに基づいています： Quantitative Kelvin probe force microscopy on nanoscale electrical devices'.
耐久性に優れた信頼性で、より迅速な測定を。あなたの研究生産性を高める
精度を損なうことなく、より高速な測定を実現します。高速スキャンでも、Park Heterodyne KPFMは従来のAM-KPFMに比べ、空間分解能が向上しています。
従来のAM-KPFMと比較して空間分解能が向上しており、貴重な時間を節約し、ワークフローを効率化することができます。
20倍の高速測定でもAM-KPFMと同等の空間分解能を維持：
AM-KPFM
Park Heterodyne KPFM
主な特徴
優れた感度と分解能
バックグラウンドノイズから信号を分離し、正確なナノスケール測定を実現。
局所検出
ヘテロダイン効果により、信号の分離が向上し、精度が向上。
周波数アーチファクトの最小化
従来のKPFMモードに見られる制限を回避。
多様なアプリケーションに最適
電荷分布、電位、仕事関数などの多様な電気特性を得るのに最適。
様々な用途に対応
AFM Image Gallery
F14H20
パーフルオロアルキルアルカンの自己組織化
AFM Image Gallery
毛髪
AFM Image Gallery
hBN上の多層グラフェン
システム互換性
詳細はこちら
スペシャリストへのお問い合わせ
Park Heterodyne KPFMのガイダンスが必要ですか？
当社のエキスパートがお手伝いいたします。
当社のエキスパートがお手伝いいたします。
AFMエキスパートによるデモの予約
Park Heterodyne KPFMでサンプルを測定するデモセッションにご参加ください。
ご予算に応じたNX-to-FXトレードインオファーでプレミアムFXパフォーマンスを実現
x
x
x
x
